Niobia розробляє ШІ для пошуку дефектів у виробництві батарей і чипів

Стартап Niobia із Сан-Франциско розробляє програмне забезпечення зі штучним інтелектом для виявлення виробничих дефектів у батареях і напівпровідникових чипах. Система має допомогти інженерам швидше встановлювати причини браку та скорочувати простої виробничих ліній, повідомляє TechCrunch.

За даними видання, клієнти розміщують ШІ-агентів безпосередньо на виробничому обладнанні. Вони працюють на автономних графічних процесорах, установлених на техніці подібно до датчиків, і здатні помічати дрібні дефекти, зокрема подряпини розміром із точковий отвір.

Аналіз причин браку

Платформа Niobia також збирає виробничі дані в одному місці. Це дає інженерам змогу через чатбот ставити запитання про виявлену проблему та детальніше аналізувати її можливі причини. Компанія прагне скоротити час пошуку рішення з кількох днів до хвилин.

Швидкість має значення, оскільки помилки під час розробки та виробництва батарей або чипів можуть зупиняти процес до моменту, коли інженери знайдуть спосіб їх усунути. Як зазначає TechCrunch, окремі дефекти здатні коштувати виробникам мільйони доларів і затримувати графіки випуску продукції.

Локальна обробка даних

Співзасновники Niobia Ґаурав Джа та Гарвін Каур мають докторські ступені з хімії й раніше працювали у виробниках чипів і батарей. Компанія навчає відкриті ШІ-моделі на дослідницьких даних про батареї та напівпровідники, щоб вони могли розпізнавати дрібні виробничі вади.

Джа пояснив, що вибір моделей із відкритим кодом пов’язаний із вимогами клієнтів до захисту конфіденційних даних. Niobia дозволяє замовникам зберігати власні ключі шифрування, тому стартап не може розшифрувати їхні дані. Наразі компанія зосереджується на плівковому покритті, гальванічному нанесенні металу та реакціях у псевдозрідженому шарі, а в перспективі прагне зробити виробничі процеси більш автономними.